Firma:                Spectro

Modell:              Xepos

Kommentar:      Dokumente deut.

Das SPECTRO XEPOS ist ein für Multi­elementanalysen mit hohen analyti­schen Leistungen konzipiertes Benchtop-RFA-Spektrometer. Ein „Extended Polarisation Optical System" genanntes Verfahren gestattet erstmals den Einsatz von Kleinleistungsröhren (50 W) als Strahlungsquelle für die simultane Analyse der Elemente von Natrium bis Uran. Mit diesem Gerät gehört der Einsatz von verlustreichen Strahlungsfiltern für viele Applikationen der Vergangenheit an. Dadurch werden deutlich verbesserte Nachweisgrenzen im Vergleich zu herkömmlichen Benchtop-Geräten erreicht.

Ob in der Petrochemie, Keramikindustrie, Abfallentsorgung und -aufbereitung oder direkt in der Produktionskontrolle, die Anwendungsbreite des SPECTRO XEPOS ist vielfältig. Ein Beispiel ist die Analyse von Additiven in Ölen. Nachweis­grenzen im Bereich zwischen 1 und 7 pg/g für die Elemente P, S, Cl, Ca, Cu, Zn und Ba werden in einer Heliumatmosphäre innerhalb von 300 s mit dem SPECTRO XEPOS erreicht. Die Reproduzierbarkeiten liegen oberhalb der Bestimmungs­grenze bei RSD <_ 1 %. Aber auch in der Feuerfest- und Keramikindustrie beweist das SPECTRO XEPOS seine Leistungsfähigkeit. Die Reproduzierbarkeit der Haupt­komponenten von Proben, die als Lithiumtetraboratschmelze analysiert werden, beträgt RSD = 0.22 %.

Technische Daten

Hochspannungsgenerator

•            Einstellbar von 0 - 50 kV mit einer Auflösung von 12 bit,

Stabilität besser als 0.02

•            Einstellbar von 0 - 1 mA mit einer Auflösung von 12 bit, Stabilität besser als 0.02 %

•            Max. Ausgangsleistung: 50 W

•            Steuerung über PC

Röntgenröhre

•            Pd-Stirnfenster‑(Rh optional)

•            75 µm Be-Strahlenaustrittsfenster

Probenkammer

•            Probenteller für die Auf­nahme der Analysenprobe

•            Evakuierbar

•            Möglichkeit einer N2-oder He-Gasspülung

•            Standardbestückung: Sphärisch gebogener Kristall

Personalcomputer

•            IBM kompatibler Rechner mit mindestens 350 MHz, 64 MByte RAM, 4 G Byte HD

•            SVGA Monitor, AT Tastatur, MS Maus

•            WINDOWS 95 ^TM Betriebs­system

•            Tintenstrahldrucker

•            SPECTRO X-LAB ^Pro , Soft­warepaket

Detektionssystem

•            Si-Driftkammer mit einer aktiven Fläche von 5 mm ² und einer effektiven Dicke von 0.3 mm

•            8 µm MOXTEK Dura Be ^TM als Strahleneintrittsfenster

•            Energetische Auflösung: FWHM < 170 eV gemessen bei der Mn K α .-Linie mit einer Eingangszählrate von 10 ⁴ Impulsen

•            Geregelte Peltier-Zweistufen-Kühlung

•            Pulsprozessor mit Pile-up­Unterdrückung und aktivem Baseline-Restorer

•            ADC (sukzessive Approximation) mit bis zu 4-K-Kanälen und einer Wandlungszeit von 10 µs

•            Spannungsversorgung für Detektor und Nachweis­elektronik

Spektrometerdaten

•            Nominale Eingangsnenn­Spannung:

120 V / 230 V AC, 50 / 60 Hz

•            Betriebsspannungs­bereich: 93V-132V/187V-264V

•            Leistungsaufnahme Spektrometer: 150 W

•            Stand-by-Betrieb Spektrometer: 70 W

•            Breite: 600 mm

Tiefe:    690 mm

Höhe: 320 mm

•            Gewicht: 50 kg

•            Ausführung als Vollschutz-gerät entsprechend der Röntgenverordnung §3

Optionen

•            Rechnergesteuerter Probenwechsler

•            Rechnergesteuerter Target­und Filterwechsler

•            He-Spülung

•            Vakuumsystem

•            TURBOQUANT