Philips XL 30 SFEG
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Objektnummer | B00015379 |
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ID-Nummer | 015379 |
Objektbezeichnung | Philips XL 30 SFEG |
Status | Archiv |
Status, Liefer- und Zahlungsbedingungen
Geräteüberprüfung
Die gebrauchten Laborgräte werden vor der Auslieferung von der Labexchange Service GmbH überprüft. Sie erhalten voll funktionsfähige Geräte.
Versandzeit
Die angegebenen Versandzeiten sind die jeweils kürzesten für einen Artikel. Die tatsächlich Versandzeiten können im Einzelfall davon abweichen. Die endgültigen Versandzeiten werden in der Auftragsbestätigung angegeben.
Bei Bestellung/Anfrage von mehreren Artikeln bieten wir grundsätzlich Sammellieferung an. Die Versandzeit berechnet sich nach der Position mit der längsten Versandzeit. Auf ausdrücklichen Wunsch ist eine Teillieferung möglich.
Versandarten
Paketdienste, Speditionen, Selbstabholung, Lieferung durch Labexchange-Fuhrpark
Lieferinformationen
Unsere Lieferbedingungen sind grundsätzlich zzgl. Versandkosten. Angegebene Versandkosten sind zu erwarten. Falls anfallende Versandkosten nicht angegeben sind, fragen Sie diese bitte gesondert an.
Die angegebenen Fracht- und Verpackungskosten beziehen sich auf den günstigsten Transportweg und sind vorbehaltlich unvorhergesehener Kostensteigerungen. Durch unvorhersehbare Ereignisse können sich die Frachtraten und die Lieferzeiten jederzeit ändern und müssten der aktuellen Situation angepasst werden. Incoterm-Kodierung gemäß Incoterms 2010: Bei Selbstabholung EXW, bei Sendungen per Schiff CFR, per Luftfracht CPT, übrige Sendungen DAP. Hinweis für Auslandssendungen: Ein Präferenznachweis/EUR1 wird von uns nicht ausgestellt. Bei Selbstabholung/EXW aus Drittländern und der EU werden 16% MWSt als Kaution einbehalten bis wir die Gelangensbestätigung/den Verbringungsnachweis des Käufers erhalten haben.
Zahlungsbedingungen
Wir akzeptieren keine Zahlung per Letter of Credit, PayPal etc. Der Rechnungsbetrag ist in jedem Fall ohne Abzug fällig. Die Ware bleibt bis zur vollständigen Bezahlung unser Eigentum. Skonto wird nicht gewährt.
Land |
Mögliche Zahlungsarten |
Bemerkung |
DE, AT, CH |
Rechnung, Vorkasse, Kreditkarte |
Eine Zahlung per Rechnung ist nur für Firmenkunden möglich. |
NL, BE, LU |
Rechnung, Vorkasse, Kreditkarte |
Eine Zahlung per Rechnung ist nur für Firmenkunden möglich. |
Alle weiteren Länder |
Vorkasse, Kreditkarte |
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Es gelten unsere Allgemeinen Verkaufs-, Lieferungs- und Zahlungsbedingungen. Diese finden Sie hier. Zwischenverkauf, sowie Irrtum und Preisänderungen sind vorbehalten.
Statusdefinition
Alle Artikel sind gebrauchte Artikel, es sei denn ein Artikel wird explizit als Neugerät aufgeführt.
Status |
Zustand |
Bemerkung |
Sofort verfügbar |
gebraucht |
Der Artikel wurde bereits überprüft und befindet sich in einem einwandfreien Zustand. Er kann direkt an Sie versendet werden. |
Lagergerät |
gebraucht |
Der Artikel befindet sich in unserem Lager. Unsere Techniker werden den Artikel vor der Auslieferung überprüfen. Sie erhalten voll funktionsfähige Artikel. |
Anbieter |
gebraucht |
Der Artikel befindet sich noch beim Anbieter. Nach Ihrer Bestellung wird er von uns angekauft, überprüft und an Sie versendet. Ein Funktionszertifikat und ein Servicebericht sind bei der Lieferung enthalten. |
Neugerät |
neu |
Es handelt sich um einen fabrikneuen Artikel. Es gelten die Garantiebestimmungen des Herstellers sowie die gesetzliche Gewährleistungsfrist. |
Labprocure |
gebraucht |
Verantwortlich für den Inhalt dieses Geräteangebotes ist die Labprocure GmbH als Geräteinserent. Labprocure übernimmt die Haftung für die hier inserierten Angebote und für die beinhalteten Fotos und Angebotstexte. Labprocure GmbH, Bruckstrasse 58, 72393 Burladingen. |
Firma: Philips
The following illustrations and descriptions are referring to the instrument model and are drawn from brochures. They are not representing the delivery volume. The exact delivery content you will find only in the offering text.
FEI XL30-SFEG
High-resolution Scanning Electron Microscope
The XL30-SFEG is a high-resolution scanning electron microscope capable of resolutions better than 2 nm, magnifications over 600 kX, and operating voltages from 200 volts up to 30 kV with 1 kV and 2 kV being routine. At the lower beam potentials one can obtain excellent topographic detail and minimum charging while at the higher potentials one can get the optimum resolution and perform efficient EDS analyses. It also offers three imaging modes, each of which can be used simultaneously and blended to provide the desired image. This instrument is also fully computer controlled, making this a very easy to use system.
This instrument includes an EDAX Phoenix EDS system and a TexSEM Laboratories EBSD system. The EDS (energy dispersive xray spectroscopy) system can be used for elemental analyses and is capable of detecting carbon, nitrogen and oxygen. The EBSD (electron backscatter diffraction) system provides crystallographic information about regions of a specimen down to 20 nm (very best case). EBSD analyses determine crystal structure and orientation and are used to measure such things as crystallographic texture and determine the number and types of twins and grain boundaries.
When combined with data from the EDS system and by searching databases, such as the JCPDS database, it can be used for phase identification. The combination of advanced, high-resolution imaging, elemental analysis and crystallographic mapping makes this a very powerful research tool.
Offline processing of images, EDS spectra and EBSD data can be done using any of the computers in the Image Processing Laboratory which is located right around the corner.
Specifications
XL30-SFEG
Source Schottky-emitter, automatic gun configuration control, optimized for the whole voltage range, 0.10 to 30 kV accelerating potential (focus compensated) and 1pA to 25 nA beam current, stable to better than 0.2% per hour.
Resolution 1.5 nm at 10 kV or higher, 2.5 nm at 1 kV
Detectors SEI, BSE, in-lens, STEM
Images Images can be captured at resolutions up to 4k x 3k and saved as tiff files.
Stage 50 mm x 50 mm X-Y travel, 360° rotation, -15° to 75° tilt (-15° to 45° for large specimens), compucentric rotation, 1 to 60 mm working distance, all five axes are under computer control
Software Windows NT-based software with a multi-user shell.
The XL NT Docu software provides image database management features.
EDAX Phoenix EDS
Detector Ultra-thin windows Si-Li detector, 139 eV resolution, 5 mm working distance.
Software Windows NT-based, beam and stage control, auto-ZAF,
spectral mapping, x-ray mapping, image analysis