Firma:                   Hewlett Packard

Modell:                8453

Kommentar:        Dokumente deut.

Optimale Leistung

Optische Leistung

Wellenlängenbereich             190-1100nm

Spaltbreite                               1 nm

EP-Auflösungstest                  >1,6                 Toluol in Hexan, abs. Verhältnis bei 269 nm/266

nm

Streulicht                                 <0,03%            bei 340 nm (NaNO ₂ , ASTM)

<0,05%            bei 220 nm (Nal, ASTM}

<1%                 bei 200 nm (KCI, EP)

Wellenlängengenauigkeit        <±0,5 nm         (NIST 2034)

und -reproduzierbarkeit           <±0,02 nm       zehn aufeinanderfolgende Messungen (NIST

2034)

Photometrische Genauig.      <±0,005 A        bei 1 A (NIST 930e)

<±0,01                         Kaliumdichromat, EP-Methode

Rauschen                                <0,0002A         sechzig 0,5-s-Messungen bei 0A, 500 nm, U/min

Photometrische Stabilität       <0,001 A/h       bei 0A, 340 nm, 1 Stunde nach dem Einschalten,

gemessen über1 h, alle 5s, konst. Umbgebungstemp.

Spektrale Basislinie                 <0,001A           0,5 s Blindmessung, 0,5 s Messung, U/min

Typische Scanzeit                  1,5s                  Voller Wellenlängenbereich

Abmessungen

Höhe x Breite x Tiefe               185 x 344 x 560 mm

Gewicht                                   16,5 kg

Anschlusswerte

Spannung; Netzfrequenz       90 - 264 VAC; 47- 63 Hz

Leistungsaufnahme                70 VA (typ.)

Umgebungsbedingungen

Betriebstemperatur                 0 - 50°C

Lagertemperatur                     -40 - 70°C

Feuchtigkeit                             <95%, bei 25-40°C

Das Keramikgehäuse des HP 8453 wird in der Lizenz der Firma Carl Zeiss hergestellt.

Merkmale des Steuermoduls

Handlich, mit numerischen und programmierbaren Tasten; Flüssigkristallanzeige mit hoher Auflösung (640x 200 Pixel); 4 MB-PCMCIA-Karte zur Speicherung von Daten und Methoden; vorgegebene Abläufe für Messungen bei einfacher Wellenlänge oder bei Gruppen von Wellenlängen: zur Datenauswertung mit anwenderdefinierten Gleichungen, zur Spektrenaufnahme, für Quantifizierung mittels Kalibrierkurve; oder für Messung von zeitlichen Abläufen (z.B. bei kinetischen Experimenten).

Einfache Wellenlänge             Abs., %T, erste bis vierte Ableitung,

Wellenlängengruppen             Bis zu vier Wellenlängen, zusätzliche Korrektur des Untergrunds.

Gleichungen                            Bis zu vier Wellenlängen, +, -, /, x, In, log, Quadrat, Wurzel,

exp.

Spektrum                                 Bestimmung von Maxima und Minima

Quantifizierung                        Einkomponentenquantifizierung; zusätzliche

Untergrundkorrektur; vier Typen von Kalibrierungskurven

Kinetik                                      Verfolgen des zeitlichen Reaktionsablaufs bei einer

Wellenlänge mit graphischer Anzeige; Absorptionsdifferenz, Geschwindigkeitsberechnungen nullter und erster Ordnung; Umrechnungsfaktor für Ergebnisse; Kalibrierungsgleichung und statistische Funktionen

Allgemeine Funktionen            Aussagekräftige Namen für Proben und Methoden; graphische Darstellung des Spektrums, einschließlich Vergrößerungsfunktionen, Cursor und Druck; Laden und Speichern der Daten auf eine PC-Karte; Laden und Speichern der Parameter als Methode; Drucken der Ergebnisse in einen Report.

Diagnose und Überprüfung    Selbsttests; Lampenintensität, Stabilität, Dunkelstrom Verfahren für Leistungstests; Frühwarnsystem (EMF) für Lampen; elektronisches Logbuch.

Unterstütztes Zubehör            Sipper und Multiküvetten-Transporteinrichtung;

Drucker, die die Steuerung durch PCL 3 oder höher unterstützen.