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Jeol JSM 840 A

ID-Nummer: 008874
Status: Archiviertes Produkt
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Beschreibung:
Jeol Elektronenmikroskop Modell JSM 840 A. Mit 2 Backscatter Detektoren.Programmierbare Stufen Tracor Northern 5600 revB. BildanalysensystemAnalySIS 2.1. Noran X-Ray Analysensystem. Neupreis: 143.394,- Euro.
Auf Anfrage
siehe Storeview
Weitere Informationen
Objektnummer B00008874
ID-Nummer 008874
Objektbezeichnung Jeol JSM 840 A
Status Archiviertes Produkt

Produktgruppe: Elektronenmikroskope

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Status, Liefer- und Zahlungsbedingungen

Geräteüberprüfung

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Alle Artikel sind gebrauchte Artikel, es sei denn ein Artikel wird explizit als Neugerät aufgeführt.

Status

Zustand

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Neugerät

neu

Es handelt sich um einen fabrikneuen Artikel. Es gelten die Garantiebestimmungen des Herstellers sowie die gesetzliche Gewährleistungsfrist.

Labprocure

gebraucht

Verantwortlich für den Inhalt dieses Geräteangebotes ist die Labprocure GmbH als Geräteinserent. Labprocure übernimmt die Haftung für die hier inserierten Angebote und für die beinhalteten Fotos und Angebotstexte. Labprocure GmbH, Bruckstrasse 58, 72393 Burladingen.

Firma:              Jeol

Modell:            JSM 840 A

Kommentar:   Dokumente engl.

The following illustrations and descriptions are referring to the instrument model and are drawn from brochures. They are not representating the delivery volume. The exact delivery content you will find only in the offering text.

A high performance SEM offering dual capability for ultramicrostructue morphological observation and full elementary analysis

The major reason the scanning microscope is now in such widespread use doubtlessly lies in its capability to allow ultramicrostructures of specimens to be observed as three-dimensional images, just as viewed with the naked eye. Added to this feature is the instrument's capability to permit anybody to obtain fine specimen images by simple operation. Behind these advantages, there have naturally been SEM manufacturers" dedicated efforts to develop instruments that will respond to users" diverse requirements.

And, in order to meet users" more demanding needs to "obtain higher resolution images by simpler operation," we at JEOL have developed new SEM. Dubbed the JSM-840, this instrument will enable you to make the utmost use of all SEM advantages...and what is more, it is provided with system expandability into a full-fledged electron probe X-ray microanalyzer.

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