Sequip 125 PAT
| Objektnummer | B00018600 |
|---|---|
| Seriennummer | 018600 |
| Nome oggetto | Sequip 125 PAT |
| Stato | Archived Product |
Gruppo prodotti: Analizzatori Granulometrici
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Definition of status
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Status |
Condition |
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Immediately available |
Used | The article is fully functional and in impeccable condition. It can be shipped immediately. |
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Used |
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Published |
Used |
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Labprocure |
Used |
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Firma: Sequip
Nachfolgende Abbildungen und Beschreibungen sind modellbezogen und aus Prospekten entnommen.
Sie geben nicht den Lieferumfang des Systems wieder.
Den exakten Lieferumfang entnehmen Sie bitte aus dem Angebotstext.
Die patentierte PAT- Sensortechnologie quantifiziert, basierend auf der optischen Rückreflektionsmessung in Verbindung mit ToF ( Time of Flight ) Technologie, Größe als auch Anzahl der Partikel im original konzentrierten Dispersionen. Im Gegensatz zu herkömmlichen Partikelmessgeräten arbeiten die PAT-Sensoren mit dem Self Selecting Focus, der ausschließlich die Partikel im Fokus detektiert und höchste Auflösung gewährleistet.
Dreifach dynamisch optische Rückreflektionsmessung -3D ORM
Die ORM (Optische Rückreflektionsmessung ) Technologie ermöglicht eine Analyse des Gesamtpartikelsystems durch Einsatz des selektiv arbeitenden Fokus.
Die besondere Form des selektiven 3D ORM Messraumes und die Kombination mit einer elektronischen Bewertung des Rückreflexionsimpulses sind das besondere Kennzeichen der 3D ORM Technologie. Es kommen die Partikel zur statistischen Auswertung, die sich direkt im Fokus befinden. Teilchen und Tropfen, die sich außerhalb des Fokus befinden, werden von einer statistischen Erfassung durch die patentierte Optik ausgeschlossen.
Ein fokussierter Laserstrahl wird kreisförmig über einen Partikelstrom bewegt. Aus der Zeitspanne, die zum Überstreichen der fokussierten Partikel benötigt wird, wird deren Größe bestimmt (Time of Flight -ToF ). Aus der Summe der Messsignale wird eine statistisch solide Verteilung erstellt.
Der spiralförmig dynamische Fokus ist der entscheidende Vorteil zur herkömmlichen Trübungsmessung.
System: Live Particle Sizer (Laborgerät): 500 PAT
Einsatz: lnsitu Messung von Partikeln und Partikelsystemen mit
Lichtrückreflektion im 680 nm-Bereich
Direkter Einsatz des Sensors in Petrischalen, Bechergläser oder Laborreaktoren
Messbereich: > 2 - < 500 µrn
Konzentration: 0,5 - 30 Cv%
Sensordurchmesser: 18 mm
Sensorlänge nasse
Seite (max.): 200 mm
Verbindung RJ 45 Hub
Elektronik-PC
Elektronikgehäuse: IP 54
Sensormaterial an Edelstahl
der nassen Seite: 1.4571
Temperaturbereich: 5°C 85°C
Druckbereich: 1 bar
Umgebungs-
temperatur : 5 - 45°C nicht kondensierend
Software: WinORM 5.1.
System: Live Particle Sizer (Laborgerät) : 300 PAT
Einsatz: lnsitu Messung von Partikeln und Partikelsystemen mit
Lichtrückreflektion im 680 nm-Bereich
Direkter Einsatz des Sensors in Petrischalen, Bechergläser oder Laborreaktoren
Messbereich: > 2 - < 300 µm
Konzentration: 0,5 -40 cv%
Sensordurchmesser: 18 mm
Sensorlänge nasse
Seite (max.): 200 mm
Verbindung RJ 45 Hub
Elektronik-PC
Elektronikgehäuse: IP 54
Sensormaterial an Edelstahl
der nassen Seite: 1.4571
Temperaturbereich: 5°C - 85°C
Druckbereich : 1 bar
Umgebungs-
temperatur : 5 - 45°C nicht kondensierend
Software: WinORM 5.1.
System: Live Particle Sizer (Laborgerät) : 125 PAT
Einsatz: Insitu Messung von Partikeln und Partikelsystemen mit
Lichtrückreflektion im 680 nm-Bereich
Direkter Einsatz des Sensors in Petrischalen, Bechergläser oder Laborreaktoren
Messbereich: 1- 125 µrn
Konzentration: 0,5 - 60 cv%
Sensordurchmesser: 18 mm
Sensorlänge nasse
Seite (max.): 200 mm
Verbindung RJ 45 Hub
Elektronik-PC
Elektronikgehäuse: IP 54
Sensormaterial an Edelstahl
der nassen Seite: 1.4571
Temperaturbereich: 5°C - 85°C
Druckbereich: 1 bar
Umgebungs-
Temperatur: 5 - 45°C nicht kondensierend
Software: WinORM 5.1.
Softwarespezifikation
WINORM 5.01.
Die Datenauswertung kann auf der Grundlage der Partikelgrößenverteilung gemäß ISO 66141 erfolgen.
Datenvisualisierung- und -präsentation
Messdaten stehen in Form von Grafiken oder Tabellen zur Verfügung. Es können gleichzeitig bis zu 5 Verteilungsdiagramme dargestellt werden.
In die Verteilungsdiagramme können Referenzdaten eingeblendet werden, die aus zuvor abgespeicherten Messungen oder aus beliebigen Daten, die mit Hilfe eines integrierten Editors eingegeben wurden, stammen können. Für kumulative Verteilungen lässt sich zusätzlich zu oder anstelle der Referenzdaten ein Streuband wählbarer Breite einblenden.
Die Darstellung kann als Summenkurve oder als Trenddiagramm erfolgen. Als Trenddaten können zu acht der Kenngrößen (d 01 bis d99) dargestellt werden. Durchgangsgröße nach DIN D0.1 bis D99..9, Countrate , Intensität, Fraktionsanteile, optional Analogsignale 0V bis 10V oder 4-20 mA. Beliebige statistische Momente von 0 bis 3 können verwendet werden.
Datenspeicherung und Neuauswertung
Die als Messdaten verfügbaren Verteilungs-, Statistik- bzw. Trenddaten können über die Zwischenablage zu anderen Programmen wie Word, Excel etc. exportiert und in dieser Form ausgedruckt oder anderweitig verwendet werden.
Über einen kontinuierlichen Datentransfer können Messdaten in Excel Format in ein kundenbezogenes Unterprogramm überführt werden
Mindestanforderungen an Auswerte- PC-System
- Prozessor Pentium IV 500MHz oder höher
- 128 MB Arbeitsspeicher
- 10000 MB freie Festplattenkapazität
- eine serielle Schnittstelle R1 45 Hub
- Windows® 2000 und XP
- Modulare Auswerteeinheit
Darstellung in 128 Kanälen, logarithmisch gestaffelt
- Einbauten in 1/2 19" Einschubtischgehäuse
- Serielle Schnittstelle RJ 45 Hub
Betriebsspannung 230V ± 3% 50/60Hz standard , nach DIN und Norm oder auf Wunsch 110V
