Spectro Xepos
Objektnummer | B00014525 |
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Numéro d'identification | 014525 |
Nom de l'objet | Spectro Xepos |
Statut | Archiv |
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Statut |
Condition |
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Occasion |
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Publié |
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Labprocure |
Occasion |
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Firma: Spectro
Nachfolgende Abbildungen und Beschreibungen sind modellbezogen und aus Prospekten entnommen.
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Den exakten Lieferumfang entnehmen Sie bitte aus dem Angebotstext.
Das SPECTRO XEPOS ist ein für Multielementanalysen mit hohen analytischen Leistungen konzipiertes Benchtop-RFA-Spektrometer. Ein Extended Polarisation Optical System" genanntes Verfahren gestattet erstmals den Einsatz von Kleinleistungsröhren (50 W) als Strahlungsquelle für die simultane Analyse der Elemente von Natrium bis Uran. Mit diesem Gerät gehört der Einsatz von verlustreichen Strahlungsfiltern für viele Applikationen der Vergangenheit an. Dadurch werden deutlich verbesserte Nachweisgrenzen im Vergleich zu herkömmlichen Benchtop-Geräten erreicht.
Ob in der Petrochemie, Keramikindustrie, Abfallentsorgung und -aufbereitung oder direkt in der Produktionskontrolle, die Anwendungsbreite des SPECTRO XEPOS ist vielfältig. Ein Beispiel ist die Analyse von Additiven in Ölen. Nachweisgrenzen im Bereich zwischen 1 und 7 pg/g für die Elemente P, S, Cl, Ca, Cu, Zn und Ba werden in einer Heliumatmosphäre innerhalb von 300 s mit dem SPECTRO XEPOS erreicht. Die Reproduzierbarkeiten liegen oberhalb der Bestimmungsgrenze bei RSD <_ 1 %. Aber auch in der Feuerfest- und Keramikindustrie beweist das SPECTRO XEPOS seine Leistungsfähigkeit. Die Reproduzierbarkeit der Hauptkomponenten von Proben, die als Lithiumtetraboratschmelze analysiert werden, beträgt RSD = 0.22 %.
Technische Daten
Hochspannungsgenerator
Einstellbar von 0 - 50 kV mit einer Auflösung von 12 bit,
Stabilität besser als 0.02
Einstellbar von 0 - 1 mA mit einer Auflösung von 12 bit, Stabilität besser als 0.02 %
Max. Ausgangsleistung: 50 W
Steuerung über PC
Röntgenröhre
Pd-Stirnfenster‑(Rh optional)
75 µm Be-Strahlenaustrittsfenster
Probenkammer
Probenteller für die Aufnahme der Analysenprobe
Evakuierbar
Möglichkeit einer N2-oder He-Gasspülung
Standardbestückung: Sphärisch gebogener Kristall
Personalcomputer
IBM kompatibler Rechner mit mindestens 350 MHz, 64 MByte RAM, 4 G Byte HD
SVGA Monitor, AT Tastatur, MS Maus
WINDOWS 95 TM Betriebssystem
Tintenstrahldrucker
SPECTRO X-LAB Pro , Softwarepaket
Detektionssystem
Si-Driftkammer mit einer aktiven Fläche von 5 mm 2 und einer effektiven Dicke von 0.3 mm
8 µm MOXTEK Dura Be TM als Strahleneintrittsfenster
Energetische Auflösung: FWHM < 170 eV gemessen bei der Mn K α .-Linie mit einer Eingangszählrate von 10 4 Impulsen
Geregelte Peltier-Zweistufen-Kühlung
Pulsprozessor mit Pile-upUnterdrückung und aktivem Baseline-Restorer
ADC (sukzessive Approximation) mit bis zu 4-K-Kanälen und einer Wandlungszeit von 10 µs
Spannungsversorgung für Detektor und Nachweiselektronik
Spektrometerdaten
Nominale EingangsnennSpannung:
120 V / 230 V AC, 50 / 60 Hz
Betriebsspannungsbereich: 93V-132V/187V-264V
Leistungsaufnahme Spektrometer: 150 W
Stand-by-Betrieb Spektrometer: 70 W
Breite: 600 mm
Tiefe: 690 mm
Höhe: 320 mm
Gewicht: 50 kg
Ausführung als Vollschutz-gerät entsprechend der Röntgenverordnung §3
Optionen
Rechnergesteuerter Probenwechsler
Rechnergesteuerter Targetund Filterwechsler
He-Spülung
Vakuumsystem
TURBOQUANT