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Jeol JCM 5700

Numéro d'identification: 017143
Statut : Stock unit
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Description:
Jeol Microscope électronique par balayage JCM 5700 Carry Scope. Pfeiffer Vacuum pompe á tiroirs rotatif DUO 2.5. Avec Fine Coater Jeol Sputter 1200. Ordinateur. Ecran. Logiciel. WinXP. AC: 2008. Seulement environ 300 heures d´exploitation
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Objektnummer B00017143
Numéro d'identification 017143
Nom de l'objet Jeol JCM 5700
Statut Stock unit

Groupe de produits: Microscpoes èléctronique

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Firma:                   Jeol

Modell:                JCM 5700

Kommentar:        Dokumente deut.

 

Nachfolgende Abbildungen und Beschreibungen sind modellbezogen und aus Prospekten entnommen.

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Den exakten Lieferumfang entnehmen Sie bitte aus dem Angebotstext.

 

 

JEOL JCM-5700, CarryScope™ - Rasterelektronenmikroskop

Das JCM-5700, CarryScope™ ist ein kostengünstiges, hochauflösendes Elektronenmikroskop, das sehr kompakt und leicht transportabel ist. Dank kleiner Rollen am Gehäuse ist es beweglich und passt wegen seiner kompakten Abmessung (Breite: ca. 60cm) leicht durch jede Tür. Die zugehörige Drehschieberpumpe kann am Mikroskopchassis befestigt werden.
Das CarryScope™ hat eine Auflösung von 5.0nm bei 20kV und beachtliche 15nm bei nur 1kV mit bis zu 300.000-facher Vergrößerung. Die euzentrisch motorisierte Probenbühne kann Proben bis zu 150mm im Durchmesser fassen. Das anpassbare Benutzer-Interface erlaubt eine leichte und intuitive Bedienung. Die Smile Shot™ Software bietet optimale Geräteeinstellung bei neuen bzw. unbekannten Proben.
Zahlreiche wirksame Automatik-Funktionen (Fokus, Kontrast und -Helligkeit, Astignatismuskorrektur, Quellen- und Säulenjustage) erleichtern die Routinearbeit und ermöglichen auch Anfängern schnell optimale Ergebnisse zu erzielen.

Merkmale
• Super-konische Linse erlaubt eine hohe Bildauflösung auch bei niedrigen 
  Anregungsspannungen
• Mechanisch euzentrische Probenbühne
• Smart Settings für häufig zu untersuchende Proben
• Individuell konfigurierbare Toolbars für wiederkehrende Funktionsabläufe
• Integrierte Video-Aufnahme von dynamischen Prozessen (.avi Format)
• extrem kompakte Außenmaße und geringe Installationserfordernisse

Spezifikationen

  Elektronenoptik

 

 Elektronenquelle

  W- Emitter

 Beschleunigungsspannung

 0.5 bis 20 kV

 Auflösung im SE-Bild

 5 nm

 Vergrößerungsbereich

 x8 bis x300.000

  Probenbühne

 

 Verfahrwege (Typ GS)

 X: 20 mm
 Y: 10 mm
 Z: 5 bis 48 mm
 T: -10 bis 90°
 R: 360° (endlos)

 Verfahrwege (Typ MS)

 X: 80 mm
 Y: 40 mm
 Z: 5 bis 48 mm
 T: -10 bis 90°
 R: 360° (endlos)


Optionen (Auswahl)
• nachrüstbares Niedervakuumsystem
• EDX, IR-Kamera
• Rückstreuelektronendetektor
• Probenkühlung und Cryotransfersysteme
• Probenheizung

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