Leybold OMS 3000/M
| Objektnummer | B00017510 |
|---|---|
| Numéro d'identification | 017510 |
| Nom de l'objet | Leybold OMS 3000/M |
| Statut | Stock unit |
Groupe de produits: Photmètres / Spectrophotomètres
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model : OMS 3000/M
annotation : Dokumente engl.
The following illustrations and descriptions refer to the instrument model and are drawn from brochures. They do not represent the scope of delivery. Please refer to the text of the offer for the exact scope of delivery.


Das Gerät besteht im wesentlichen aus:
- dem optomechanischen Teil OMS 3000 M (Einschub mit Chopper, Lampe, Monochromator, Detektor, usw.)
- dem elektronischen Teil OMS 3000 E (Anzeige, Bedienung und Signalaufbereitung)
- den Durchführungen am Rezipienten mit den Lichtleitern
Was das OMS 3000 alles ermöglicht
Optisch wirksame dünne Schichten nehmen in industriellen Prozessen sowie im gesamten Bereich der Hochtechnologie ständig an Bedeutung zu.
Je nach Anwendung benötigt man dafür sehr spezielle Schichten bzw. Schichtsysteme, die genau definierte Aufgaben zu erfüllen haben, z. B. hinsichtlich:
- Transmission
- Reflexion
- Absorption
- Streuung
- Temperatur- und Feuchtigkeitsbeständigkeit
- Abrieb- und Haftfestigkeit etc.
Optische Schichten und Schichtsysteme von nur wenigen nm Dicke, wie sie z.B. für Strahlteiler, Konversions-, Kanten-, Bandpaßfilter und Wärmeschutzschichten, sowie Kaltlicht- und Laserspiegel benötigt werden, müssen äußerst präzise hergestellt werden.
Die hohen Anforderungen, die heute an leistungsfähige Produkte in der Lasertechnik oder Präzisionsoptik gestellt werden, sind nur mit hochgenauen optischen Meßmethoden während der Herstellung einzuhalten. Neben einer hohen nutzbaren Signalauflösung über einen weiten Meßbereich sind Reproduzierbarkeit, extreme Langzeitstabilität sowie ein hoher Bedienungskomfort Kriterien für ein optisches Monitorsystem. Ein einfaches Lichtmeßgerät mit Wechselstromverstärker erfüllt diese Bedingungen nicht.
Deshalb hat die LEYBOLD AG das OMS 3000, ein neues computergesteuertes Prozeßfotometer entwickelt. Es gestattet eine hochgenaue Schichtdickenabschaltung bei der Herstellung von optisch wirksamen Schichten durch Messung von Reflexion oder Transmission eines Testglases oder eines Substrates während der Beschichtung.
Hauptvorteile
- Langzeitstabiles Fotometer
- Einfache Wartung
- Zweistrahlprinzip mit flexiblen Lichtleiteroptiken
- Hohe Signalauflösung
- Optimale Einstellung des Verstärkungsgrades sowie Kalibrierung auf Reflexion und Transmission erfolgt automatisch
- Meßwertanzeige in Prozent "Transmission" und "Reflexion" mit einer Auflösung von 0,01 bzw. 0,001 %
- Der Bediener programmiert die verfahrenstechnisch relevanten Daten
- Die daraus resultierenden Geräteparameter werden automatisch ermittelt
- Die erwartete Fotometerkurve wird vorausberechnet und analysiert
- On-line durchgeführte Triggerpunktkorrektur
- Alle gebräuchlichen Monitorstrategien werden vom OMS 3000 voll unterstützt
- Bewegte Substrate können im intermittierenden Betrieb gemessen werden
- Bei Einzelschicht-Messung wird die Materialbrechzahl beim Durchfahren des a/4-Extremwertes automatisch ermittelt und angezeigt
- Zwischen den Schichten können die spektralen Reflexions- bzw. Transmissionskurven bestimmt werden.
Wo das OMS 3000 eingesetzt wird
Anwendungsgebiete
Mit dem OMS 3000 können Reflexions- und Transmissionsmessungen durchgeführt werden.
Ein Hauptanwendungsgebiet ist die Online Prozeßmessung aufwachsender optischer Schichten. Die Messung auf stationären Substraten ist ebenso möglich wie die intermittierende Messung auf rotierenden Substraten. Eine ausgereifte Monitorsoftware gewährleistet dabei eine zuverlässige automatische Schichtdickenabschaltung. Die Berechnung der Abschaltbedingungen erfolgt ebenso automatisch wie die Optimierung der Geräteparameter (Verstärkung, Zeitkonstante, etc.).
Eine Online durchgeführte Triggerpunktkorrektur sorgt für eine hohe Schichtgenauigkeit und hervorragende Reproduzierbarkeit.
Ein im Standardgerät integrierter, schrittmotorgesteuerter Monochromator ermöglicht die präzise Messung von kompletten Reflexions- oder Transmissionsspektren. Damit ergeben sich folgende Anwendungsgebiete:
- Vergleichsmessungen von Spektren an Luft und im Vakuum. Die Darstellung der Kurve kann über einen Plotter mit HP-Standardprotokoll erfolgen (über Schnittstellle RS 232 C).
- Messung der Spektralkurven zwischen den einzelnen Schichten. Mit den daraus resultierenden Daten können Optimierungsrechnungen durchgeführt werden. Hierzu kann das OMS 3000 über eine RS 232 C Schnittstelle mit einem PC kommunizieren.
- Qualitätskontrolle in der Fertigung. Die gemessenen Spektralkurven können - z.B. zur Überprüfung der Spezifikation - mit einem PC verarbeitet werden.
- Schichtkontrolle und -überwachung in Durchlaufanlagen.Die Langzeitstabilität des Gerätes fördert einen solchen kontinuierlichen Dauerbetrieb.
- Für Reflexionsmessungen an bewegten Substraten steht eine IntegrationsKugel mit speziellem Meßkopf zur Verfügung.
Meßprinzip:
Das OMS 3000 ist ein Zweistrahl-Fotometer mit Lock-in-Technik. Um auch unzugängliche Meßpositionen abdecken zu können, werden zur Lichtübertragung Lichtleiter eingesetzt.

Abb. 1.1: Zweistrahl-Meßprinzip mit Faseroptik
1 Rezipient
2 Durchführung
3 Lichtleiter
4 Chopper
5 Lampe
6 Lichtschranken
7 Chopper-Motor
8 Schritt-Motor (für Monochromator)
9 Gitter-Monochromator
10 Detektor
Es können Transmissions- und Reflexions-Messungen sowohl intermittierend als auch stationär durchgeführt werden.
Technische Daten
Optische Daten
Lichtquellen
Halogenlampe, 12V/50W, Lebensdauer ca. 1000 Betriebsstunden, nutzbarer Wellenlängenbereich 400-2400 nm Deuteriumlampe (noch nicht verfügbar), 30W, Lebensdauer ca. 1500 Betriebsstunden, nutzbarer Wellenlängenbereich 200-400 nm
Gitter-Monochromatoren Schrittmotor-gesteuerter Monochromator unterteilt in 6 Meßbereiche
Typ Blockfilter Wellenlängenbereich
SMC 1-02 - 200-400 nm
SMC 1-03 - 400-800 nm
SMC 1-04 - 450-900 nm
SMC 1-04 RG 610 600-1100 nm
SMC 1-05 Si 1000-1800 nm
SMC 1-06 Ge 1700-2400 nm
Lineare Dispersion (Standard)
4,5 nm/mm im UV-Bereich, 6 nm/mm im VIS-Bereich, 10 bis 30 nm/mm im NIRBereich
Detektor
Silizium (Standard), nutzbarer Wellenlängenbereich 400-1100 nm; Bleisulfid (optional), nutzbarer Wellenlängenbereich 1100-2400 nm; Fotomultiplier (noch nicht verfügbar) (optional), nutzbarer Wellenlängenbereich 200-900 nm
Lichteinkopplung
Lichtleiter, Faserbündel, Ø 2,3 mm, NA= 0,22, Öffnungswinkel = 25,5°,
Meßbereich: UV-Faser: 200-1200 nm, NIRFaser: 400-2400 nm
Optische Durchführung mit Einkoppeloptik
Auf Anfrage
Signalauflösung
0,01 % bezogen auf 100 % R oder T bei R oder T > 10 %
0,001 % bezogen auf 100 % R oder T bei R oder T < 10 %
Rausch/Signal-Verhältnis
Abhängig vom Wellenlängenbereich und anlagenseitiger Signalausbeute Standard wie Signalauflösung
Langzeitstabilität
1 % pro Woche, gerätebedingt
Chopperfrequenz 13 Hz
Schnittstellen
Dateneingabe Tastatur mit 8 Tasten
Anzeige 5"-Monitor
Host-Anschluß
RS 232 C und Multibus-kompatible Bus-Schnittstelle
Schreiberausgänge
0 - 10 V entsprechend 0 - 100 % R oder T 0 - 10 V mit programmierter Auflösung
Externe Ansteuerung
Parallele Schnittstelle mit drei potentialfreien digitalen Eingängen und vier potentialfreien digitalen Ausgängen zur Einbindung in eine "nichtintelligente" Automatik
Elektrische Versorgung
OMS 3000 M OMS 3000 E
Spannung 220 V ± 10 % 220 V ± 10 %
Frequenz 50/60 Hz 50/60 Hz
Leistungsaufnahme 150 VA 70 VA
Abmessungen
OMS 3000 M OMS 3000 E
Höhe 265 mm 133 mm
Breite 325/295 mm 450 mm
Tiefe 500 mm 350 mm
Gewicht 23 kg 8 kg